1. بڑا LCD چینی ڈسپلے: اس آلے میں ایک بڑی-اسکرین (105mm × 65mm) چینی مینو انٹرفیس ہے۔ اسکرین کو دو حصوں میں تقسیم کیا گیا ہے: بائیں طرف فنکشن مینو دکھاتا ہے، اور دائیں طرف متعلقہ اسٹیٹس کی معلومات کا اشارہ دکھاتا ہے۔ ہر قدم واضح طور پر ظاہر ہوتا ہے، آپریٹرز کو پیشہ ورانہ تربیت کے بغیر آلہ استعمال کرنے کی اجازت دیتا ہے۔ ایک ہی آپریشن مائیکرو کمپیوٹر کو خود بخود پیمائش کے پورے عمل کو مکمل کرنے کی اجازت دیتا ہے، جس سے یہ ایک مثالی ڈائی الیکٹرک نقصان کی پیمائش کا آلہ بنتا ہے۔
2. بڑے پیمانے پر ڈیٹا ذخیرہ: آلہ ایک کیلنڈر چپ اور ایک بڑی- صلاحیت والی میموری سے لیس ہے، جس سے ٹیسٹ کے نتائج کو تاریخی ترتیب میں ذخیرہ کرنے کے قابل بناتا ہے۔ تاریخی ریکارڈ کو کسی بھی وقت دیکھا جا سکتا ہے، اور آؤٹ پٹ پرنٹ کیا جا سکتا ہے۔
3. سائنسی اور ایڈوانسڈ ڈیٹا مینجمنٹ: انسٹرومنٹ ڈیٹا کو USB فلیش ڈرائیو کے ذریعے برآمد کیا جا سکتا ہے اور ہماری کمپنی کے مخصوص سافٹ ویئر کا استعمال کرتے ہوئے کسی بھی PC پر دیکھا اور منظم کیا جا سکتا ہے، جو کام کی رپورٹیں بھی تیار کر سکتا ہے۔
4. متعدد ٹیسٹنگ موڈز: آلہ مختلف طریقوں کا استعمال کرتے ہوئے ٹیسٹ کر سکتا ہے، بشمول اندرونی ہائی وولٹیج، بیرونی ہائی وولٹیج، اندرونی معیار، بیرونی معیار، مثبت کنکشن کا طریقہ، ریورس کنکشن کا طریقہ، اور خود-جوش کا طریقہ۔ بیرونی معیاری اور بیرونی ہائی وولٹیج کے حالات کے تحت، یہ ہائی-وولٹیج (10kV سے زیادہ) ڈائی الیکٹرک نقصان کی پیمائش کر سکتا ہے۔
5. ایک-مرحلہ CVT ٹیسٹنگ
یہ آلہ مکمل طور پر سیل شدہ CVT (Capacitive Voltage Transformer) C1 اور C2 کے ڈائی الیکٹرک نقصان اور اہلیت کو بھی جانچ سکتا ہے، جس سے C1 اور C2 کی بیک وقت جانچ حاصل کی جا سکتی ہے۔ یہ CVT ٹرننگ ریشو اور وولٹیج کے زاویہ کے فرق کو بھی جانچ سکتا ہے۔
6. ہائی-اسپیڈ سگنل سیمپلنگ
اندرونی انورٹر اور سیمپلنگ سرکٹ سبھی ڈیجیٹل طور پر کنٹرول ہوتے ہیں، مسلسل ایڈجسٹ آؤٹ پٹ وولٹیج کے ساتھ۔
7. حفاظت اور وشوسنییتا کے لیے متعدد تحفظات
اس آلے میں ان پٹ وولٹیج کے اتار چڑھاو، آؤٹ پٹ شارٹ سرکٹس، اوور وولٹیج، اوور کرنٹ، اور درجہ حرارت کے خلاف متعدد حفاظتی اقدامات شامل ہیں، جو اس کی حفاظت اور بھروسے کو یقینی بناتے ہیں۔ اس میں گراؤنڈنگ کا پتہ لگانے کا فنکشن بھی ہے تاکہ یہ یقینی بنایا جا سکے کہ غیر زمینی آلات کو وولٹیج بڑھانے کی اجازت نہیں ہے۔
